介電常數(shù)介質損耗試驗儀：GDAT-A

滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

介電常數(shù)介質損耗試驗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
二、技術指標
  1．Q值測量
   a．Q值測量范圍：2～1023。
   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
   c．標稱誤差
項    目   GDAT-A
頻率范圍   20kHz～10MHz；
固有誤差   ≤5％±滿度值的2％；
工作誤差   ≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍      10MHz～60MHz；
固有誤差   ≤6％±滿度值的2％；
工作誤差    ≤8％±滿度值的2％。
   2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
  
3．介電常數(shù)介質損耗試驗儀電容測量：1~ 460
項    目       GDAT-A
直接測量范圍     1～460pF
主電容調節(jié)范圍
準確度  30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％

   注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
   4．介電常數(shù)介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項     目     GDAT-A
頻率范圍：10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz     

本儀器測試儀方法如下： 

儀器的測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響。
a. 把配用的Q表主調諧電容置于較小電容量。
 

b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
 

c. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），           如：1MHz 時電感取250uH，15MHz時電感取1.5uH。
 

d. 短按ON/OFF按鍵，打開液晶顯示屏。
 

e. 調節(jié)平板電容器測微桿，使平板電容器二極片相接為止，長按SET按鍵將初始值設置為0。

4．介電常數(shù)Σ的測試

a. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點上。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧，此時調節(jié)平板電容器，使Q 表再回到諧振點上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4

c. 計算被測樣品的介電常數(shù)：
                         Σ＝D2 / D4

5．介質損耗系數(shù)的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測試裝置，再改變Q 表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1

d. 計算被測樣品的介質損耗系數(shù)公式如下：
?

式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）C0 為測試電感的分布電容               （參考LKI-1 電感組的分布電容值）